测试问题

1.lot 批次，用作单位。 2.on hold lot 被扣留的批次。有时某些批次的产品会因为一些问题被扣留给某些部门分析处理，其状态为on hold。 3.Tester/ATE 测试机，指各种集成测试仪器。内部通常集成各种电源(V/I源)、电表、时间测量仪器、开关网络、波形发生器等。 4.Handler/Prober 分选机/分选机械手，一种与Tester配合将产品分类或分等级的机械设备。 5.Wafer 晶圆 6.Wafer Sort 晶圆分选。即晶圆测试，对晶圆上裸芯片的测试。(FS:全抽样分选，s

也是双链表结构，它在bins处于bin64~bin126，那么64bit中最小large bin为 2 * 8 * 64 = 1024byte，哎，这个时候前面说的fd、bk、fd_nextsize、bk_nextsize就来到用武之地了，为了加快检索速度，fd_nextsize和bk_nextsize指针会指向一个大小与自己不一样的chunk，故在加入了大小不同的chunk时，这两个指针才会被修改。由free chunk组成的链表，当用户再次申请时从中寻找合适的chunk返回给用户。

芯片测试问题一、问题描述二、问题分析三、算法代码 一、问题描述 有n片芯片，其中好芯片比坏芯片至少多1片，现需要通过测试从中找出1片好芯片。测试方法是:将2片芯片放到测试台上，2片芯片互相测试并报告测试结果:“好”或者“坏”。假设好芯片的报告是正确的，坏芯片的报告是不可靠的 (即对于被测试的芯片显示的报告可能是坏或者好）。请设计一个算法，使用最少的测试次数来找出1片好芯片。 测试函数可以采用以下方法。 #include <stdio.h> #include <stdlib.h> #i

100个人回答五道试题，有81人答对第一题，91人答对第二题，85人答对第三题，79人答对第四题，74人答对第五题，答对三道题或三道题以上的人算及格， 那么，在这100人中，至少有多少人及格。-------------------------------------正文-----------------------------------------------------------------------------答案----------------------------------------

一、问题描述 条件：有n片芯片，其中好芯片至少比坏芯片多1片。其中好芯片会给出正确的结果，而坏芯片的结果是不确定的。 问题：使用最少测试次数，从中挑出1片好芯片。   二、问题分析 1.      分析特例 假设有两个芯片A和B，使它们互相测试。结果如下：   A报告 B报告 结论 1 ...

三角形、nextday、佣金问题黑盒测试 1.设计三角形的路径覆盖测试用例，如语句覆盖、判定覆盖、条件覆盖、判定条件覆盖、路径覆盖等 伪代码程序如下： ①　Input(a,b,c) ②　if(a&gt;200||a&lt;1||b&gt;200||b&lt;1||c&gt;200||c&lt;1) then ③　X="请输入一个1~200的数值” ④　End if ⑤　If((a+b&gt;c)&...

一、面试基础题 简述测试流程: 1、阅读相关技术文档（如产品PRD、UI设计、产品流程图等）。 2、参加需求评审会议。 3、根据最终确定的需求文档编写测试计划。 4、编写测试用例（等价类划分法、边界值分析法等）。 5、用例评审(主要参与人员：开发、测试、产品、测试leader)。 6、开发提交代码至SVN或者GIT ，配管搭建测试环境。 7、执行测试用例，记录发现的问题。 8、验证bug与回归测试。 9、编写

从需求进行测试是解决问题的好方法。但我们只能测试存在的东西，而在需求阶段只有idea存在。如果我们能发现idea的缺陷，我们就可以在idea变成产品代码之前修复它们。难点在于，如何从无法感知的东西中发现缺陷，我们必须想象需求中明确表明的、隐含的或不可避免的问题。这篇文章描述了我（Wayne Roseberry）在参与的一个项目中的一个需求测试经历，我使用了一些有效且相对简单的技术来拦截在需求的第一次迭代中无法立即感知的问题。这些技巧是：1. 完成需求中描述的所有步骤2. 要求明确需求内容。

测试问题

【芯片测试】有n片芯片，已知好芯片比坏芯片至少多1片。现在需要通过测试从中找出1片好芯片，测试方法如下：将2片芯片放到测试台上，2片芯片互相测试并报告测试结果（即好或者坏）；其中，好芯片的报告是正确的，而坏芯片的报告是不可靠的。为保证使用更少的测试次数，请设计一个合适的算法解决上述问题 算法设计思路 当芯片数为偶数时，每两个互相测试，测试保存下来的芯片存到一个数组中（该数组记录原数组的芯片的下标）。 当芯片为奇数的时候，将从第一个芯片开始不断与最后一个芯片互相测试，当测试到最后一个芯片的结果为好.

芯片测试，用蛮力法和分治法分别可求得结果

芯片测试问题 有n片芯片，已知其中好芯片比坏芯片至少多1片。现在需要通过测试从中找出1片好芯片。测试的方法是：将2片芯片放到测试台上，2片芯片互相测试并报告测试结果：”好”或者”坏”。假定好芯片的报告是正确的，坏芯片的报告是不可靠的(可能是对的，也可能是错的)。请设计一个算法，使用最少的测试次数来找出1片好芯片。 由于好芯片至少比坏芯片多1片，对1片芯片来说，如果有⌊n/2⌋片芯片都报告它是”好的”，那么这片芯片一定是好的。一个蛮力算法就是任取1片芯片，然后用其余所有芯片来测试它，直到找到1片好芯片为止。这

问题叙述： 4-6　　VLSI芯片测试 　　　　Diogenes教授有n个被认为是完全相同的VLSI芯片，原则上它们是可以互相测试的。教授的测试装置一次可测二片，当该装置中放有两片芯片时，每一片就对另一片作测试并报告其好坏。一个好的芯片总是能够报告另一片的好坏，但一个坏的芯片的结果是不可靠的。这样，每次测试的四种可能结果如下： 　　　　A芯片报告　　　　　　　　　B...

有n片芯片，已知好芯片比坏芯片至少多1片。现需要通过测试从中找出1片好芯片，测试方法为：将2片芯片放到测试台上，2片芯片互相测试并报告测试结果（即好或者坏）；其中，好芯片的报告是正确的，坏芯片的报告是不可靠的（即可能正确、也可能错误）。 为保证使用较少的测试次数就能从中找出1片好芯片，请设计一个分治算法解决上述问题。 1. 算法设计思路 芯片进行一一比较可能的结果为（好，好）（好，坏），其中（好，

分治算法 分而治之，把一个复杂的问题分成两个或更多的相同或相似的子问题，再把子问题分成更小的子问题……直到最后子问题可以简单的直接求解，原问题的解即子问题的解的合并。如：二分法、快速排序、归并排序，二叉树遍历（先遍历左子树再遍历右子树）等。 步骤： 分解：将原有问题分解为若干规模较小，相对独立，与原问题形式相同的子问题； 解决：若子问题容易解决，则直接解；否则继续分解为更小的子问题，直到容易解决...

有n片芯片，已知好芯片比坏芯片至少多1片。现在需要通过测试从中找出1片好芯片，测试方法如下：将2片芯片放到测试台上，2片芯片互相测试并报告测试结果（即好或者坏）；其中，好芯片的报告是正确的，而坏芯片的报告是不可靠的。请在上述背景下解决下述问题，根据好芯片至少比坏芯片多一片的条件，可以得出，在芯片数量大于3片的时候，通过将芯片互检的结果为一好一坏或者两个坏（其中必有至少一个坏芯片）那组芯片丢弃，只留...