Synopsys DFT Compiler时序变量配置实战:从ATE波形到脚本优化的完整指南
在芯片测试领域,时序变量的精确配置直接关系到ATE(自动测试设备)测量结果的可靠性。我曾亲眼见过一个项目因为test_default_strobe参数配置不当,导致量产测试误判率高达15%,团队花了整整两周时间才定位到这个看似简单的配置问题。本文将带您深入理解DFT Compiler中那些关键但容易被忽视的时序参数,特别是test_default_strobe的底层逻辑和实战配置技巧。
1. 时序变量基础:ATE测试的时间维度
1.1 核心时序参数解析
在DFT Compiler中,有五个关键时序参数构成了ATE测试的时间基准:
| 参数名称 | 默认值 | 作用描述 |
|---|---|---|
test_default_period |
100ns | 定义测试时钟周期,对应ATE设备的基础时钟频率 |
test_default_delay |
0ns | 指定非时钟输入信号相对于时钟边沿的延迟时间 |
test_default_bidir_delay |
- | 专门针对双向端口的信号延迟设置 |
test_default_strobe |
40ns | 确定ATE进行信号采样的时间点(相对于时钟边沿) |
test_default_strobe_width |
0ns |

2516

被折叠的 条评论
为什么被折叠?



