一、无源晶振和有源晶振测试结果对比
1.无源晶振测试
LR35使用无源晶振常温频偏测试结果为:1.5KHz左右

但是在高低温速率1的条件下存在丢包或者无法进行透传问题,前期通过更换不同大小的晶振以及调整匹配电容减小频偏,效果不理想,高低温还是丢包大。
2.有源晶振测试
有源晶振常温频偏测试为:0.375KHz

高温85度频偏测试为:0.75KHz,如下图所示,丢包也在正常范围内;


在低温-40度丢包也在正常范围内;在这里插入图片描述
文章对比了无源晶振和有源晶振在常温和高低温条件下的频偏测试结果,发现有源晶振在控制频偏和保证数据稳定传输方面更具优势。在62.5KHz带宽下,最大可容忍的频偏约为15KHz,超过这个值可能会影响通信透传。
LR35使用无源晶振常温频偏测试结果为:1.5KHz左右

但是在高低温速率1的条件下存在丢包或者无法进行透传问题,前期通过更换不同大小的晶振以及调整匹配电容减小频偏,效果不理想,高低温还是丢包大。
有源晶振常温频偏测试为:0.375KHz

高温85度频偏测试为:0.75KHz,如下图所示,丢包也在正常范围内;


在低温-40度丢包也在正常范围内;在这里插入图片描述
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