JESD51-14 标准详细解读

JESD51-14 标准详细解读

标准全称：
JEDEC JESD51-14
Transient Dual Interface Test Method for the Measurement of the Thermal Resistance Junction-to-Case of Semiconductor Devices with Heat Flow Through a Single Path

这是目前国际上公认的测量功率半导体器件结到壳热阻（RthJC） 最准确、最权威的标准方法。

1. 标准目的

传统 RthJC 测量容易受壳温测量位置误差和接触界面热阻影响。
JESD51-14 采用双界面法（Transient Dual Interface Method），结合结构函数分析，有效消除外部接触热阻的影响，获得准确的器件本体 RthJC。

2. 核心原理

通过进行两次瞬态热阻抗测试，仅改变器件壳到冷却板之间的界面条件：

• Dry 测试（干界面）：直接接触或极薄界面。
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