Name: 调和测度：几何与分析的观点（影印版）
ISBN: 9787040503074

作者: Luca Capogna / Carlos E. Kenig / Loredana Lanzani
出版社: 高等教育出版社
原作名: Geometric and Analytic Points of View
出版年: 2018-8-24
页数: 155
定价: 97.20元
装帧: 精装
丛书: 美国数学会经典影印系列
ISBN: 9787040503074

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内容简介 · · · · · ·

几何测度论和调和分析的新近发展带来了相关领域一系列的发展。例如表现为“近似”于欧几里得体积的测度支集的正则性理论获得了深刻的结果，最令人意想不到的是借助于该测度的渐进性，从而刻画了支集的平坦性特征，而这些特征引发了非光滑区域的调和测度的研究中重要的新进展。本书给出了此领域中最新研究成果的概览和介绍。本书内容基于 Carlos Kenig 于 2000 年在Arkansas 大学的 Arkansas 春季系列讲座中的五讲的讲义，另加以扩充和更新以反映这个领域的快速发展。此外, 还增加了一章平面情形提供历史回顾。本书包含了背景知识的介绍，便于高年级的研究生和调和分析及几何测度论领域的研究人员理解。