ADC转换后的数据跟硬件提供的数据信息并不是完全对应的,它所得出的数据里面存在着offset error和gain error, 所以我们需要对它进行校准后再使用。
针对数据可能存在的错误类型,校准分为偏移校准(offset calibration)和 增益校准(gain calibration)。其中offset calibration是为了消除ADC的offset error,gain calibration是为了消除ADC的gain error。
Single-Ended Measure and EXT-CM Measure mode这两种测量模式下的校准是独立的,并且每一种测量模式下都需要offset校准和gain校准。
- Offset Calibration
ADC的分辨率是14bit,0....12bit是校准后的数据,最高位也就是第13bit,
是符号位,0为正,对应上面的虚线,说明需要减去offset偏移;
1为负,对应下面的虚线,说明需要加上offset偏移。
软件配置:ADCSEL: 4'b1011=>Gound measurement for Offset Calibration
S_GAIN : 3'b111=>21.6 dB
数据寄存器:0x2C => ADC calibration data callback
通过此配置得出来的数据用于offset calibration.
在进行offset校准的时候得出的数据Doffset_conv(offset digital data),
如若转换为Voltage,所用的公式为:
Vin = K * Vmax* Doffset_conv/ 2^13 (I)
此处的K= 1.1645, Vmax= 0.333V
需要注意的是:offset校准要除以2的13次方(类似于EXT-CM Measure MODE)。
2.Gain Calibration
根据analog input voltage range与analog LDO output voltage是否相关联,gain校准又分为Relative Gain Calibration and Absolute Gain Calibration。如果ADC analog voltage与analog LDO

本文详细介绍了ADC的校准过程,包括偏移校准(offset calibration)和增益校准(gain calibration),以及如何在Single-Ended Measure和EXT-CM Measure模式下进行独立校准。通过具体的公式和配置步骤,解析了如何从ADC转换后的数据中消除offset error和gain error,以获取准确的电压值。

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